存儲(chǔ)IC卡介紹 : IC卡內(nèi)芯片為電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器EEPROM，以及地址譯碼電路和指令譯碼電路。存儲(chǔ)卡屬于被動(dòng)型卡，通常采用同步通訊方式；卡片存儲(chǔ)方便，在很多場合可以替代磁卡，但該類 IC卡不具備保密功能，因而一般用于存放不需要保密的信息。主要應(yīng)用于三表行業(yè)：電表卡、水表卡、購氣卡、供熱卡等。 存儲(chǔ)IC卡常用型號(hào)： 美國ATMEL公司AT24C(01/02/04/08/16/32/64)、ATMEL93C46/93C46A、AT45D041/AT45DB041常用存儲(chǔ)卡IC卡：容量分別為1k / 2k / 4k / 8k / 16k / 64k bit；AT24C 系列的工作電壓 5V、2.7V、1.8V；工作電 壓為5V士l0％，根據(jù)要求最低可至1.8V；電流讀最大為lmA，寫最大為3mA，寫擦除次數(shù)為100萬次，數(shù)據(jù)保持100年，工作溫度為O-70℃，通訊協(xié)議符合ISO - IEC 7816-3 同步協(xié)議，雙向串行接口 AT24C系列型號(hào)的后兩位數(shù)字為該型號(hào)的最大K位數(shù)( 1K = 1024 )，8 位為1字節(jié)，最大字節(jié)存儲(chǔ)容量的算法為K位數(shù)×1024÷8。如：AT24C01A的最大存儲(chǔ)容量字節(jié)1 × 1024 ÷ 8 = 128，其字節(jié)地址空間為O-127(16進(jìn)制為0x00-0x7F)
德利富IC卡性能檢測：
1.DELIFU IC卡卡基的材質(zhì)、尺寸和位置檢測。 2.DELIFU IC卡整卡翹曲度，卡基切邊毛刺長度、彎曲度檢測。 3.DELIFU IC卡卡基的耐濕、溫等級(jí)，粘結(jié)性能，表層剝離強(qiáng)度檢測。 4.DELIFU IC卡卡基抗化學(xué)侵蝕性能檢測。 5.DELIFU IC卡芯片抗彎曲、扭曲動(dòng)態(tài)測試值。 6.DELIFU IC卡抗動(dòng)態(tài)彎曲強(qiáng)度：按ISO/IEC14443-1的規(guī)定檢測。 7.DELIFU IC卡抗動(dòng)態(tài)扭曲強(qiáng)度：按ISO/IEC14443-1規(guī)定檢測。 8.DELIFU IC卡芯片觸點(diǎn)與卡基表面的誤差值，機(jī)械強(qiáng)度、粘合強(qiáng)度。 9.DELIFU IC卡芯片觸點(diǎn)與卡基表面的誤差值符合GB/T 16649標(biāo)準(zhǔn)。 10.DELIFU IC卡芯片的位置：芯片中心坐標(biāo)為：15.06mm+23.89mm，觸點(diǎn)結(jié)構(gòu)和串行接口符合ISO7816同步協(xié)議。 11.DELIFU IC卡質(zhì)量保證機(jī)制：執(zhí)行ISO9002質(zhì)量體系執(zhí)行。 12.DELIFU IC卡芯片的嵌入方式：在卡基上進(jìn)行銑切，并根據(jù)用戶的要求進(jìn)行熱融工藝或冷溶工藝嵌入。 13.DELIFU IC卡芯片的使用壽命芯片的使用壽命大于10年，重復(fù)寫操作次數(shù)大于10萬次。 14.DELIFU IC卡芯片上的資料保存期：芯片上的資料數(shù)據(jù)保存時(shí)間大于10年。 15.DELIFU IC卡每張卡均經(jīng)過數(shù)據(jù)測試檢測，IC卡的優(yōu)良率出廠合格率100%。
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